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目視確認ステーション VT-1850

目視確認ステーション VT-1850

光学倍率12倍のズームレンズを搭載した、高精細パターン向けの目視確認ステーション。PI-9700やMI-9700と接続し、プリント基板やフォトマスクにおける高精細パターンや穴詰まりなどの欠陥確認を容易にします。またSentflowとの連携により、欠陥傾向のマップ化や重複欠陥発生時のフィードバックも的確に行えます。

特長

  1. パッケージ検査機能

    ICパッケージ基板をはじめとする、ピース配列基板におけるベリファイ作業の効率化を実現。廃棄と判断したピースが規定個数に達した時点でそのシートのベリファイを自動的にスキップすることができます。また、他のレイヤで廃棄となったピース、シートのベリファイを自動的にスキップすることも可能です

  2. ハイレベルな測長機能

    独自開発の画像処理エンジンを搭載。配線パターンにおけるエッジを正確に認識し、インピーダンスクーポン測定に代表されるピンポイントでの測長が可能です。また、CU-9000から指示を与えることで、設計データを基にした測定点データも取得できます。 

AOIセットアップシステム 「EzPrex」

検査前の段取りを高速かつスキルレスに


厚み・アライメント・スレッショルドなど各種パラメータの最適値を、高速かつ自動で設定できる「EzPreX」を標準搭載。独自のアルゴリズムを採用し、極めて精度の高いセットアップを可能にしました。また、画面を見ながら簡単に最終調整ができる「EzTune」も備えており、オペレーターの負担を大幅に軽減します。

 

プリべリフィケーションシステム 「iSift」

検査後の欠陥確認が、ネットワーク上のPCで行えます。スキャンし終えたエリアから欠陥画像がリアルタイムでサムネイル表示され、マウス操作でOK/NGを効率良く判定して分類。VTシリーズでのベリファイ作業前に欠陥を選別することで、作業の効率化と確認時間の短縮を可能にします。


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