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目視確認ステーション VT 2000シリーズ

目視確認ステーション VT 2000シリーズ

PIシリーズから送られる検査結果データを基に、基板の欠陥情報をモニター表示する目視確認ステーション。キャプチャー画像を大きく表示し、同時にマスター画像や欠陥マップなどを表示させることで、視認性や作業効率を大きく向上します。生産量に応じた増設も可能です。

特長

  1. 自動調光機能

    ズーム時に画像の明るさが一定になるよう光量を自動的に調整。常に最適な光量で欠陥確認が行えます。また基板や欠陥の種類に応じた各照明の光量値をレシピ登録して管理が可能です。

  2. 自動アライメントマーク登録機能

    自動的にアライメントマーク位置へ移動しマーク登録を行います。手動での登録が不要となるため、検査工程のスループット向上を実現しています。

  3. パッケージ検査機能
    ICパッケージ基板をはじめとする、ピース配列基板におけるベリファイ作業の効率化を実現。廃棄と判断したピースが規定個数に達した時点でそのシートのベリファイを自動的にスキップすることができます。また、他のレイヤで廃棄となったピース、シートのベリファイを自動的にスキップすることも可能です。 

  4. ハイレベルな測長機能
    独自開発の画像処理エンジンを搭載。配線パターンにおけるエッジを正確に認識し、インピーダンスクーポン測定に代表されるピンポイントでの測長が可能です。また、CU-9000から指示を与えることで、設計データを基にした測定点データも取得できます。

     

AOIセットアップシステム 「EzPrex」

検査前の段取りを高速かつスキルレスに


厚み・アライメント・スレッショルドなど各種パラメータの最適値を、高速かつ自動で設定できる「EzPreX」を標準搭載。独自のアルゴリズムを採用し、極めて精度の高いセットアップを可能にしました。また、画面を見ながら簡単に最終調整ができる「EzTune」も備えており、オペレーターの負担を大幅に軽減します。

 

プリべリフィケーションシステム 「iSift」

検査後の欠陥確認が、ネットワーク上のPCで行えます。スキャンし終えたエリアから欠陥画像がリアルタイムでサムネイル表示され、マウス操作でOK/NGを効率良く判定して分類。VTシリーズでのベリファイ作業前に欠陥を選別することで、作業の効率化と確認時間の短縮を可能にします。


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