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光学式外観検査装置 MIYABI 7

光学式外観検査装置 MIYABI 7

スマートフォンやタブレット端末など小型デバイスの進化や、車の自動運転・衝突防止機能など安全装置の普及とともに、 HDI基板やFPC基板にはさらなる高密度化・高精細化が求められます。
「MIYABI 7」は、SCREENが30年以上にわたって培ってきた実績に加え、独自開発の照明・撮像系や検査ロジックを新たに搭載。
最先端エレクトロニクス向け基板の信頼性向上とリードタイム短縮を強力にサポートします。

特長

イージーセットアップ

フロントソフトウエアのセットアップが超簡単に!
専用のセットアップステーション「CU-9000」を大幅にバージョンアップ!検査条件はエンドユーザーの指示書どおりに入力するだけで、自動的に最適な条件に設定されます。あとは、レシピ選択と板厚入力をするだけの簡単操作、およそ15分で作業が完了します。

ソフトウェアセットアップ

「MIYABI 7」本体側のセットアップもわずか3ステップ
検査データの読み込みと基板の位置合わせを行い、アライメントが完了すれば準備OK。
わずか3ステップで検査がスタートできます。

3ステップで検査スタート

高スループット&高検出力

あらゆる基板を高精度に検査する、新開発の照明系
新開発の照明 独自設計の「多角ラインドーム型照明」は、光量のバラつきがないことに加え、これまでパターン部と基材部のコントラストが確保しづらかった基板でも、確実にパターン認識することができ、良好な検査結果が得られます。


パッド・ラインを個別に条件設定でき、欠陥検出精度はさらにハイレベルに
パッドライン 新開発の「Pad & Line F eature検査機能」を搭載。各パッド幅、ライン幅ごとに個別のパラメータで測長検査を行うことで、欠陥を高精度に検出することができます。


穴検査にも新ロジックを採用
新ロジックを採用 サブミクロン単位でのより詳細な測長を可能にし、穴ズレや穴径・ネック切れなど、穴周辺部のさまざまな欠陥検出精度が飛躍的に向上します。


仕様

型式 PI-7-H
照明 LED(R、B、IR)
積載可能サイズ 720(X)× 740(Y)mm
最大検査エリア 720(X)× 740(Y)mm
スループット
(サイズ 610(X)× 457(Y)mm、20μm L/Sの場合)
155面/時(5μm分解能)
機械寸法(W×D×H) 1,420 × 1,940 × 1,515 mm
重量 850 kg

※スループットは、当社条件による数値です



検査対象とスループットの目安

L/S (μm) 20 40
面/時間 155 212

※ワークサイズ : 610×457mm 基板交換時間を含む

 

プリべリフィケーションシステム 「iSift」

検査後の欠陥確認が、ネットワーク上のPCで行えます。スキャンし終えたエリアから欠陥画像がリアルタイムでサムネイル表示され、マウス操作でOK/NGを効率良く判定して分類。VTシリーズでのベリファイ作業前に欠陥を選別することで、作業の効率化と確認時間の短縮を可能にします。


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