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1998年5月28日

プリント配線板の超微細パターンを高速に検査する
光学式外観検査システムの新機種を発売

大日本スクリーン製造株式会社(本社:京都市上京区/社長:石田 明)は、プリント配線板の超微細パターンを高速に検査する光学式外観検査システム「PI-6800」を発売します。「PI-6800」は、6月3日から5日まで東京ビッグサイトで開催される「JPCAショー98」展に出品すると同時に受注を開始、10月から出荷します。

モバイルパソコンや携帯電話など、最近の電子機器の小型化に伴い、プリント配線板のパターンの微細化が進み、目視による外観検査ではパターンの欠陥を発見することが困難になりつつあり、様々な基板に対応した高性能な光学式外観検査装置が求められています。

このたび発売する「PI-6800」は、プリント基板業界で定評のある「PI-5000」シリーズのハイエンドシステムで、画像処理により4μm(ミクロン)までの分解能を持ち40μm幅の超微細パターンにも対応し、高精度と操作性に優れています。システムは、外層板、内層板、ミックス基板またはBGA、CSPと呼ばれるパッケージ基板などのあらゆるプリント配線板を高速に自動検査するステーションと、基板の欠陥部分をカメラでモニターに拡大表示し、欠陥の原因を目視確認するステーションで構成されています。また、AOIサーバー(DC-9310)との組み合わせにより、ネットワークに対応した外観検査システムを構築できます。なお、目視確認ステーション(VT-1020)は単体販売もしています。

■特長

1. 高速かつ高分解能検査

検査分解能は、DRC(デザインルールチェック)法で4μm、完全比較法で8μmと高精度。線幅40μmの超ファイン(微細)パターンも検査が可能。さらに、高速ファインモード機能(別売)を搭載することにより620×480mmの基板をわずか32秒(当社従来比2倍)で検査。

2.高精細完全比較法を搭載

高精細完全比較法を搭載したことにより、さらに細かい欠陥の検出が可能。特に、SMTパッド、ランド、電源グランドパターン、アナログパターンの欠陥など、DRC法では検出が困難なパターンの欠陥検出に威力を発揮。

3. プリスキャンによる簡単な検査範囲設定

検査範囲は、プリスキャンによりディスプレイ画面に映し出された基板の画像を見ながら、マウスの操作だけで多角形入力、複写、移動、削除などを簡単に指定。

4.日本語表示のグラフィカルなメニュー形式で簡単入力

基板の厚さ、欠陥サイズ、検査範囲などの条件設定を日本語の対話方式で簡単に入力。

5. 自動アライメント機能で確実な位置決め

自動アライメント機能を搭載。位置決め用のピン穴がない基板にアライメントマークを付け、自動的に読み取り、基板を確実に位置決め。

6. 多面付け検査機能

同一の回路パターンが複数に面付けされた基板を効率的に検査。一つの面をマスターデータとして他の面を比較する検査が可能。

7. ビルドアップ基板に対応した検査

軽量PHSなどの携帯用電子機器に使用されているビルドアップ基板の製造過程で発生するスルーホールのパターン(フォトビア部)に対応した欠陥処理機能を搭載。

<国内標準販売価格・消費税別>

PI-6800システム一式 7,000万円から
VT-1020 1,460万円

<販売台数>

初年度 100台(PI-6800)

 

高速・高性能の外観検査システム「PI-6800」

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